1.包装标签型号:XT4054LN02
2.包装标签规格:sot23
3.包装标签数量:3000PCS/盘
4.芯片丝印:3KAX
5.芯片引脚:光亮无氧化
1.充电状态电流温度老化测试
| 序号 | 测试环境温度 | 充电电流(mA) | 老化时间 | **温度 |
| 1 | 25 | 500 | 1小时 | 72 |
| 2 | 400 | 1小时 | 65 | |
| 3 | 300 | 1小时 | 65 | |
| 4 | 40 | 500 | 1小时 | 89 |
| 5 | 400 | 1小时 | 75 | |
| 6 | 300 | 1小时 | 65 | |
| 7 | 60 | 500 | 1小时 | 95 |
| 8 | 400 | 1小时 | 80 | |
| 9 | 300 | 1小时 | 79 |
2.500mA10次循环充放电,100次VIN断电测试

3.40度环境温度500mA充电测试

1.在125度环境中烘烤30分钟,待恢复室温后,测试充电电流,截止电压,转灯功能正常。
2.充电状态在-20度环境中充电测试120分钟,测试充电电流,截止电压,转灯功能正常。
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