1.包装标签型号:CL4054D
2.包装标签规格:500mA sot23
3.包装标签数量:3000PCS/盘
4.芯片丝印:HTL7
5.芯片引脚:光亮无氧化
1.不同环境温度及工作电流老化测试.(极限测试-负载电池电压3.3-3.4V)
序号 | 测试环境温度 | 充电电流(mA) | 老化时间 | **温度 |
1 | 25 | 500 (高温后自动降到400-500mA) | 1小时 | 72 |
2 | 400 | 1小时 | 67 | |
3 | 300 | 1小时 | 65 | |
4 | 40 | 500 (高温后自动降到350-430mA) | 1小时 | 79 |
5 | 400 | 1小时 | 78 | |
6 | 300 | 1小时 | 71 | |
7 | 60 | 500 (高温后自动降到250-400mA) | 1小时 | 88 |
8 | 400 (高温后自动降到250-350mA) | 1小时 | 88 | |
9 | 300 (高温后自动降到250-300mA) | 1小时 | 86 |
2.500mA10次循环充放电,100次VIN能断电测试
3.40度环境温度500mA充电测试
1.在125度环境中烘烤30分钟,待恢复室温后,测试充电电流,截止电压,转灯功能正常。
2.充电状态在-20度环境中充电测试120分钟,测试充电电流,截止电压,转灯功能正常。
【相关推荐】
全国服务热线