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芯天上电子元件CL4054D充电芯片入库来料IQC检测测试

作者:超级管理员 来源:本站 发布日期:2023-10-13 09:03:17 浏览次数:180
信息摘要:
一、外观查验1.包装标签型号:CL4054D2.包装标签规格:500mA sot233.包装标签数量:3000PCS/盘4.芯片丝印:HTL75.芯片引脚:光亮无氧化二、参数测试(10PCS)1.不同环境温度及工作电流老化测试.(极限测试-负载电池电压3.3-3.4V)序号测试环境温度充电电流(mA)老化时间**温度125500(高温后自动降到400-500mA)1小时722…

一、外观查验


1.包装标签型号:CL4054D
2.包装标签规格:500mA sot23
3.包装标签数量:3000PCS/盘
4.芯片丝印:HTL7
5.芯片引脚:光亮无氧化

二、参数测试(10PCS)


1.不同环境温度及工作电流老化测试.(极限测试-负载电池电压3.3-3.4V)

序号测试环境温度充电电流(mA)老化时间**温度
125
 
500
(高温后自动降到400-500mA)
1小时72
24001小时67
33001小时65
440500
(高温后自动降到350-430mA)
1小时79
54001小时78
63001小时71
760500
(高温后自动降到250-400mA)
1小时88
8400
(高温后自动降到250-350mA)
1小时88
9300
(高温后自动降到250-300mA)
1小时86


2.500mA10次循环充放电,100次VIN能断电测试


3.40度环境温度500mA充电测试

三、高低温(10PCS)

1.在125度环境中烘烤30分钟,待恢复室温后,测试充电电流,截止电压,转灯功能正常。
2.充电状态在-20度环境中充电测试120分钟,测试充电电流,截止电压,转灯功能正常。



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