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XT051F充电合封单片机充电性能测试

作者:admin 来源:本站 发布日期:2018-04-12 10:08:50 浏览次数:211
信息摘要:
XT051F充电合封单片机充电性能测试1.充电电流极限测试:在25度、40度和60度环境温度下,持续500mA电流充电,芯片的温度环境温度(恒温箱)设置电流/Prog电阻实际电流IC温度(引脚)25度500mA/2K510mA50度40度500mA/2K502mA70度60度500mA/2K495mA80度2.充电电压-充电电流测试(环境温度25):不同的输入电压…

XT051F充电合封单片机充电性能测试

1. 充电电流极限测试:在25度、40度和60度环境温度下,持续500mA电流充电,芯片的温度

环境温度(恒温箱)设置电流/Prog电阻实际电流IC温度(引脚)
25度500mA/2K510mA50度
40度500mA/2K502mA70度
60度500mA/2K495mA80度

 
2. 充电电压-充电电流测试(环境温度25):不同的输入电压和电池电压条件下充电电流

输入电压电池电压设置电流/Prog电阻实际电流
4.5V0.2V500mA/2K50mA
2.9V500mA/2K50mA
3.7V500mA/2K510
4.1V500mA/2K80mA
5V0.5V500mA/2K50mA
2.9V500mA/2K50mA
3.7V500mA/2K510
4.1V500mA/2K80mA
5.5V度0.V500mA/2K50mA
2.9V500mA/2K50mA
3.7V500mA/2K510
4.1V500mA/2K80mA




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